<video id="xjlbv"></video><dl id="xjlbv"><dl id="xjlbv"><i id="xjlbv"></i></dl></dl><noframes id="xjlbv"><video id="xjlbv"></video>
<video id="xjlbv"><dl id="xjlbv"><delect id="xjlbv"></delect></dl></video>
<video id="xjlbv"><dl id="xjlbv"><i id="xjlbv"></i></dl></video>
<dl id="xjlbv"><video id="xjlbv"><delect id="xjlbv"></delect></video></dl><video id="xjlbv"><i id="xjlbv"></i></video>
<dl id="xjlbv"></dl>
<dl id="xjlbv"><i id="xjlbv"><delect id="xjlbv"></delect></i></dl>
<dl id="xjlbv"></dl>
<video id="xjlbv"><dl id="xjlbv"><delect id="xjlbv"></delect></dl></video>
<video id="xjlbv"><i id="xjlbv"><font id="xjlbv"></font></i></video> <dl id="xjlbv"><delect id="xjlbv"><font id="xjlbv"></font></delect></dl>
<video id="xjlbv"></video><dl id="xjlbv"><i id="xjlbv"><font id="xjlbv"></font></i></dl><video id="xjlbv"><i id="xjlbv"></i></video>
<dl id="xjlbv"></dl>
<video id="xjlbv"></video><dl id="xjlbv"></dl><video id="xjlbv"></video>

應用領域

Application area

聯系我們

contact us


上海測宇科學儀器科技有限公司

地 址:上海市控江路1688衛百辛大廈702室

聯系人:孟先生 13585785050

總 機:021-65142150,65029510

傳 真:021-65029530

郵 編:200092

E-mail:738304336@qq.com  mengjiaming@rigaku.com.cn

節假日請撥打: 13585785050

您當前位置:網站首頁 > 應用領域

Rietveld 分析

  Hugo Rietveld 發明,全譜擬合結構精修被廣泛接受,它是幾乎所有晶體材料結構分析極具價值的方法。Rietveld分析類似于X射線熒光(XRF)的基本參數法。 這個軟件細化各種參數——包括:晶格參數,峰的寬度和形狀,擇優取向——推導計算衍射圖樣。一旦派生圖樣與位置樣品數據幾乎相同,可獲得樣品各種屬性包括:精確定量信息,晶體尺寸。提煉圖樣的過程是精密計算的過程,要求數分鐘內計算出多組分混合結果。與傳統定量方法相比,Rietveld分析是先進的,無需標準樣品即可得到±1%以內的精確結果。在此之前,使用粉末衍射進行混合材料的無標精確定量分析是幾乎不可能的。

系統

  • 高功率θ/θ測角儀系統: TTRAX III
  • 微區衍射: RAPID II
  • 臺式X射線衍射儀: MiniFlex600
  • 高性能XRD: Ultima IV
  • 多目的高分辨XRD: SmartLab?

欧美一区网站